一种芯片测试方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201210050128.X
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2012-02-29
申请人：
华为技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种芯片测试方法及装置
申请号	CN201210050128.X	申请日期	2012-02-29
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2012-07-25	公开/公告号	CN102608518A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	陈健;戴方明
代理机构	北京中博世达专利商标代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明实施例提供一种芯片测试方法及装置，涉及电子领域，能够降低测试功耗，减少测试失败机率。该芯片测试方法包括给被测模块配置使能信息，所述被测模块为待测模块组中一个或多个在工作模式下应处于工作状态的模块；对所述被测模块加载测试向量，进行模块测试，所述测试向量用于测试所述被测模块是否能够正常工作；将模块测试结果与预设结果进行比较，当所述模块测试结果与所述预设结果不同时，则判断所述被测模块中存在异常模块，所述预设结果为所述被测模块在加载所述测试向量时处于正常工作状态；输出指示所述被测模块中是否存在异常模块的指示信号。本发明实施例提供的芯片测试方法及装置用于芯片的测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供