用光谱测定法来研究含有至少两种要素的样品的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201080004698.4
IPC分类号：G01N23/223
申请日期：
2010-01-14
申请人：
马尔提斯凯特股份公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用光谱测定法来研究含有至少两种要素的样品的方法
申请号	CN201080004698.4	申请日期	2010-01-14
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2011-12-14	公开/公告号	CN102282459A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/223 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/223 通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;3查看分类表>
申请人	马尔提斯凯特股份公司	申请人地址	瑞典厄松斯布鲁变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	马尔提斯凯特股份公司	当前权利人	马尔提斯凯特股份公司
发明人	P·马尔姆库维斯特;C·霍尔姆;M·尼尔森;J·马尔姆库维斯特;L·库姆布兰特
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	李华英

摘要

本发明涉及用光谱测定法来研究样品的方法，其中所述样品含有至少两种要素。在第一步中，将具有未知浓度的所述要素的样品置于光谱仪中，并测量样品中组分要素的强度，同时确定样品浓度，或者另选地，将具有已知浓度的物质的样品置于光谱仪中并测定样品的强度，其中在第二步中计算组分要素的虚构理论强度值。在第三步中，自具有已知浓度的经测量标准物来计算强度或浓度值。在第四步中，借助计算值调节理论值。在第五步中，将具有未知浓度的所述要素的样品置于光谱仪中并读取各种要素的强度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供