专利名称 | LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质 | ||
申请号 | CN202110275858.9 | 申请日期 | 2021-03-15 |
法律状态 | 暂无 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2021-04-16 | 公开/公告号 | CN112666733A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G02F1/13 | IPC分类号 | G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;9;G;3;/;0;0查看分类表> |
申请人 | 惠州高视科技有限公司 | 申请人地址 | 江苏省苏州市高新区嘉陵江路198号11幢1层101室、102室、9层901室、902室
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 高视科技(苏州)有限公司 | 当前权利人 | 高视科技(苏州)有限公司 |
发明人 | 梅长卿;阮治未;姜涌;王润宇 | ||
代理机构 | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 陈文福 |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有引用任何外部专利数据! |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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该专利没有被任何外部专利所引用! |
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