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LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110275858.9
  • IPC分类号:G02F1/13;G09G3/00
  • 申请日期:
    2021-03-15
  • 申请人:
    惠州高视科技有限公司
著录项信息
专利名称LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法、电子设备及存储介质
申请号CN202110275858.9申请日期2021-03-15
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2021-04-16公开/公告号CN112666733A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02F1/13IPC分类号G;0;2;F;1;/;1;3;;;G;0;9;G;3;/;0;0查看分类表>
申请人惠州高视科技有限公司申请人地址
江苏省苏州市高新区嘉陵江路198号11幢1层101室、102室、9层901室、902室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人高视科技(苏州)有限公司当前权利人高视科技(苏州)有限公司
发明人梅长卿;阮治未;姜涌;王润宇
代理机构惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙)代理人陈文福
摘要
本申请是关于一种LCD灰阶画面下线型缺陷检测方法。该方法包括:在灰阶画面下根据待测LCD图像得到目标检测图像;分别对目标检测图像进行根据N个检测角度的线型干扰滤波处理,得到N个空间滤波结果图,N为大于1的整数;分别对N个空间滤波结果图进行线型缺陷突显处理,得到N个第一滤波响应图;根据N个第一滤波响应图确定线型缺陷的位置。本申请提供的方案,能够提高LCD线型缺陷响应度,对于线型缺陷的适用性高,提升线型缺陷检测结果的准确性,提升LCD生产质量和生产效率。

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