控制半导体集成电路测试过程的系统和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN97126154.7
IPC分类号：--
申请日期：
1997-12-31
申请人：
三星电子株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	控制半导体集成电路测试过程的系统和方法
申请号	CN97126154.7	申请日期	1997-12-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	1998-11-25	公开/公告号	CN1199931
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	三星电子株式会社	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	郑光雄;李安圣;金宰荣
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	谢丽娜

摘要

本发明提供一种通过处理由成品测试过程所产生的测试数据和分析测试BIN结果控制测试全过程的测试控制系统。包括测试IC器件的电特性的多个测试仪，处理由多个测试仪传输的数据和产生大量数据库的主计算机，和多个分布式计算机。本发明的控制方法的步骤是：根据BIN临界值执行批判定，显示批判定结果，根据批判定结果请求下一步检查，执行Q/A监控。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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