一体化工艺危害分析方法、系统及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202010267929.6
IPC分类号：G06Q10/06
申请日期：
2020-04-07
申请人：
顾敏

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著录项信息

专利名称	一体化工艺危害分析方法、系统及存储介质
申请号	CN202010267929.6	申请日期	2020-04-07
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-04	公开/公告号	CN111489076A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06Q10/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法；其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法〔8〕 G06Q10/00 行政；管理〔8，2012.01〕 G06Q10/06 资源、工作流、人员或项目管理，例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源；企业规划；组织模型〔2012.01〕	IPC分类号	G;0;6;Q;1;0;/;0;6查看分类表>
申请人	顾敏	申请人地址	江苏省镇江市京口区丁卯沃得花园12-501 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	顾敏	当前权利人	顾敏
发明人	顾敏
代理机构	南京纵横知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一体化工艺危害分析方法、系统及存储介质，所述方法包括获取不同生产状态下发生偏离和引发偏离的原因；根据偏离原因的概率、使能事件和条件修正计算不期望事件发生的潜在概率；根据偏离的原因和后果严重性矩阵生成不期望事件的后果严重性等级；根据潜在风险等级对不期望事件进行预防性措施动作；获取预防性措施动作实施后不期望事件的残留概率；根据潜在风险等级对不期望事件进行保护性措施动作；获取保护性措施动作实施后不期望事件的残留后果严重性等级；根据不期望事件的残留概率、残留后果严重性和风险矩阵生成残留风险等级。本发明有效地避免了传统分析方法的不足和缺点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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