一种基于二维数字图像相关法的试件质量检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110362581.3
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/80;G06T5/00
申请日期：
2021-04-02
申请人：
重庆邮电大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于二维数字图像相关法的试件质量检测方法
申请号	CN202110362581.3	申请日期	2021-04-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-22	公开/公告号	CN113012143A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;8;0;;;G;0;6;T;5;/;0;0查看分类表>
申请人	重庆邮电大学	申请人地址	重庆市南岸区南山街道崇文路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆邮电大学	当前权利人	重庆邮电大学
发明人	禄盛;罗兆杰;马莹;邓聪颖;陈翔;赵洋;朴昌浩
代理机构	重庆辉腾律师事务所	代理人	卢胜斌

摘要

本发明属于光测力学领域，具体涉及一种基于二维数字图像相关法的试件质量检测方法，该方法包括：获取被测试件的散斑点，以试件中心点为坐标原点，建立空间坐标系；将试件表面的空间散斑点映射为平面散斑点；向被测试件施加轴向拉伸力，采集试件形变后的表面散斑图；将试件形变后的表面散斑图中的各个空间散斑点映射为平面散斑点；采用反向组合高斯牛顿算法对试件形变前的映射平面散斑点和试件形变后的映射平面散斑点进行处理，得到试件表面变形测量结果；本发明提出的空间坐标点向平面坐标点映射的方法，不仅保证原坐标系和新坐标系之间一一对应的映射关系，而且计算量小、编程易于实现。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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