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半导体激光芯片低温Bar条测试机

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201921540612.4
  • IPC分类号:G01M11/00
  • 申请日期:
    2019-09-17
  • 申请人:
    河北圣源光电股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体激光芯片低温Bar条测试机
申请号CN201921540612.4申请日期2019-09-17
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/00IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人河北圣源光电股份有限公司申请人地址
河北省石家庄市鹿泉经济开发区昌盛大街21号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人河北圣源光电股份有限公司当前权利人河北圣源光电股份有限公司
发明人杜海洋
代理机构北京德崇智捷知识产权代理有限公司代理人贺征华
摘要
本实用新型公开了半导体激光芯片低温Bar条测试机,包括机箱、温控箱和激光打标台,机箱的顶端固定安装有温控箱,温控箱与机箱之间活动安装有转盘,温控箱的顶端中部固定安装有驱动电机,驱动电机的底端传动连接有转轴,转轴贯穿于温控箱内,并与转盘卡接,温控箱的顶端边侧活动安装有六个箱门,本实用新型,在工作时,工作人员可启动并控制驱动电机运行,从而使得转轴带动转盘进行转动,使得bar条逐依接触触头,从而控制激光打标台进行激光雕刻工作,在该过程中,可通过控制温控箱来尝试不同温度下bar条的工作效果,从而在测试bar条工作状态的同时,找到最适合相应bar条的工作温度,以方便调控bar条在工作中发挥出最大效率。

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