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测试装置、测试系统、测试方法以及制造集成电路的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811388275.1
  • IPC分类号:G06K7/00;G06K19/077;G06F17/50
  • 申请日期:
    2018-11-20
  • 申请人:
    三星电子株式会社
著录项信息
专利名称测试装置、测试系统、测试方法以及制造集成电路的方法
申请号CN201811388275.1申请日期2018-11-20
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-07-12公开/公告号CN110008765A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K7/00IPC分类号G;0;6;K;7;/;0;0;;;G;0;6;K;1;9;/;0;7;7;;;G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人三星电子株式会社申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三星电子株式会社当前权利人三星电子株式会社
发明人李在卨;洪基玉;郑海成
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人杨姗
摘要
提供了一种测试系统。该测试系统包括:板,设置有近场通信芯片并包括天线;标签保持装置,包括分别容纳第一NFC标签和第二NFC标签的第一标签保持器和第二标签保持器,以及被配置为调整第一标签保持器和第二标签保持器中的每一个的位置的第一控制器;以及第二控制器,被配置为:将第一测试信号发送给测试板,以执行针对NFC芯片和第一NFC标签的第一通信测试;接收第一通信测试的结果;并确定NFC芯片是否正常读取存储在第一NFC标签中的第一数据。第一控制器被配置为将第一NFC标签和天线放置成彼此间隔开基于第一NFC标签的类型的第一距离并且彼此面对,并且当完成第一通信测试时使第一标签保持器和第二标签保持器旋转。

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