加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

用于样品的光致发光测量的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201880074469.6
  • IPC分类号:G01N21/64;G01N21/95;H02S50/15;G01N21/84
  • 申请日期:
    2018-11-20
  • 申请人:
    法国原子能源和替代能源委员会
著录项信息
专利名称用于样品的光致发光测量的方法
申请号CN201880074469.6申请日期2018-11-20
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2020-07-03公开/公告号CN111373243A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/64IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;1;N;2;1;/;9;5;;;H;0;2;S;5;0;/;1;5;;;G;0;1;N;2;1;/;8;4查看分类表>
申请人法国原子能源和替代能源委员会申请人地址
法国巴黎 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人法国原子能源和替代能源委员会当前权利人法国原子能源和替代能源委员会
发明人R·瓦拉奇
代理机构北京市铸成律师事务所代理人罗婷婷;林蕾
摘要
本发明涉及一种用于样品(10)的光致发光测量的方法,该样品包括通过轮廓C连接的前表面(11)和后表面(12),样品(10)经由该样品的后表面(12)搁置在活性基板(20)的接纳表面(21)上,样品(10)包括第一区域(13),该第一区域(13)部分地由轮廓C界定,并且发射任何点处的强度都低于样品(10)的光致发光信号的平均强度的光致发光信号,该强度被称为第一强度,该平均强度被称为参考强度,活性基板(20)发射强度至少等于参考强度的光致发光信号,该强度被称为辅助强度,活性基板(20)包括边缘B,该边缘B与轮廓C分隔重叠距离,并且与所述轮廓C一起界定活性基板(20)的周边部分(24)。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供