一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210559407.9
IPC分类号：G01B21/00
申请日期：
2012-12-20
申请人：
清华大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置及方法
申请号	CN201210559407.9	申请日期	2012-12-20
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-24	公开/公告号	CN103063172A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区北京市-82信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	王元清;袁焕鑫;石永久
代理机构	北京众合诚成知识产权代理有限公司	代理人	张文宝

摘要

本发明属于结构工程钢结构技术领域，尤其涉及一种连续量测结构构件局部几何初始缺陷的装置及方法。利用步进电机驱动的导轨，结合工程试验中常用的数字位移传感器，固定于结构构件表面后，启动步进电机带动位移传感器匀速缓慢滑移，实现对结构构件特定截面上的局部几何初始缺陷的连续量测，配套的数据采集系统可以实时连续采集数据并绘制缺陷形态曲线，在对实测曲线进行起始点修正后，可以准确得到构件截面上的缺陷形态分布曲线。本发明所采用的量测装置和设备操作简单，量测精度较高，所测得的结构构件局部几何初始缺陷结果可以在结构构件稳定性试验研究与计算分析推广应用。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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