基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610907548.3
IPC分类号：G01N15/02;G01N15/00
申请日期：
2016-10-17
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法
申请号	CN201610907548.3	申请日期	2016-10-17
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-10	公开/公告号	CN106644852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/02 测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N 15/04，G01N 15/10优先；通过测定渗透压力入G01N 7/10；）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;2;;;G;0;1;N;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市松北区中源大道14955号加速器9号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	黑龙江省工业技术研究院	当前权利人	黑龙江省工业技术研究院
发明人	任亚涛;齐宏;张俊友;孙建平;阮立明
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	岳泉清

摘要

基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。

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