一种EEPROM器件测试电路及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200910199595.7
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2009-11-27
申请人：
上海贝岭股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种EEPROM器件测试电路及其测试方法
申请号	CN200910199595.7	申请日期	2009-11-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-06-01	公开/公告号	CN102081972A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	上海贝岭股份有限公司	申请人地址	上海市张江碧波路572弄39号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华虹集成电路有限责任公司	当前权利人	上海华虹集成电路有限责任公司
发明人	刘新东;向中文
代理机构	上海兆丰知识产权代理事务所（有限合伙）	代理人	章蔚强

摘要

本发明涉及一种EEPROM器件测试电路及其测试方法，所述的测试电路包括一主控制器、一与该主控制器的第一IO口的数据线连接的测试单元和一与所述主控制器的第二IO口的控制线连接的译码电路，所述的主控制器一方面向所述的测试单元输出测试启动信号，另一方面接收该测试单元输出的测试数据，生成并存储相应的统计分析信息；所述的译码电路从所述主控制器接收到译码信号，将该主控制器第二IO口的控制线的地址译码成行控制线和列控制线的地址，并将所述行控制线和列控制线的地址设置为高电平或低电平。本发明有效提高了测试效率、降低了测试成本，实现了每个被测器件的时时检测，同时使测试数据丰富直观。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供