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一种高浓度氚探测器及测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811061986.8
  • IPC分类号:G01T1/167
  • 申请日期:
    2018-09-12
  • 申请人:
    中国工程物理研究院核物理与化学研究所
著录项信息
专利名称一种高浓度氚探测器及测量方法
申请号CN201811061986.8申请日期2018-09-12
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-12-25公开/公告号CN109085633A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01T1/167IPC分类号G;0;1;T;1;/;1;6;7查看分类表>
申请人中国工程物理研究院核物理与化学研究所申请人地址
四川省绵阳市919信箱215分箱 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国工程物理研究院核物理与化学研究所当前权利人中国工程物理研究院核物理与化学研究所
发明人陈志林;彭述明;陈平;常瑞敏;杨阳;赖财锋;吴冠银
代理机构中国工程物理研究院专利中心代理人翟长明;韩志英
摘要
本发明公开了一种高浓度氚探测器及测量方法,属于辐射探测领域,适用于高浓度氚操作中气态氚的动态测量。上述的探测器为一种流气式氚探测器,探测器中的测量室外壁连接有进气管道和出气管道,收集极置于测量室外壁的空腔内,构成测量室,电缆头嵌入测量室内与收集极连接。本发明的探测器通过直接收集氚衰变产生的β射线在测量室内产生的电流信号,结合修正因子,实现氚浓度的定量测量。本发明的探测器无需加高压即可实现氚的测量;探测器采用全焊接连接,泄漏率低;探测器的有效体积小,对气体中氚响应时间快;探测器的测量室外壁的内表面及收集极均做镀金处理,有效减少了氚的吸附产生的记忆效应。

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