检测设备及检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110871461.6
IPC分类号：G01N21/956;G01N21/01
申请日期：
2021-07-30
申请人：
深圳中科飞测科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	检测设备及检测方法
申请号	CN202110871461.6	申请日期	2021-07-30
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-05	公开/公告号	CN113607754A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	深圳中科飞测科技股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳中科飞测科技股份有限公司	当前权利人	深圳中科飞测科技股份有限公司
发明人	陈鲁;王天民;张嵩
代理机构	深圳市沈合专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	吴京隆

摘要

本申请公开了一种检测设备。检测设备用于检测工件，工件包括第一区域及第二区域，第一区域的反射率大于第二区域的反射率。检测设备包括第一探测装置及第二探测装置。第一探测装置用于以第一照明光投射至第一区域，并采集包括第一区域的第一图像。第二探测装置用于以第二照明光投射至第二区域，并采集包括第二区域的第二图像，第一照明光的强度小于第二照明光的强度。本申请还公开了一种检测方法。对于反射率较大的第一区域，利用第一探测装置，以强度较小的第一照明光照射后，采集包括第一区域的第一图像，对于反射率较小的第二区域，利用第二探测装置，以强度较大的第二照明光照射后，采集包括第二区域的第二图像，提高检测结果的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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