光学检测装置及其光学检测治具

发明专利有效专利

申请号：
CN201510644456.6
IPC分类号：G01N21/88;G01N21/15
申请日期：
2015-10-08
申请人：
创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光学检测装置及其光学检测治具
申请号	CN201510644456.6	申请日期	2015-10-08
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-03-01	公开/公告号	CN106468665A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;N;2;1;/;1;5查看分类表>
申请人	创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹科学园区力行六路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	创意电子股份有限公司,台湾积体电路制造股份有限公司	当前权利人	创意电子股份有限公司,台湾积体电路制造股份有限公司
发明人	刘昌明;谢宗儒
代理机构	北京律诚同业知识产权代理有限公司	代理人	徐金国

摘要

一种光学检测装置及其光学检测治具。光学检测治具包含一第一框架、一第二框架与至少一放置面。第一框架具有至少一第一支臂。第二框架与第一框架相互间隔出一以供光源光照的光运行通道，第二框架具有至少一第二支臂，第二支臂与第一支臂相互分离。放置面位于第一框架与第二框架之间，连接第一框架与第二框架至少其中之一，用以承载一光学转换元件。光学检测治具用以使光学转换元件尽可能地靠近感测芯片，却又不致阻碍光源的光照强度，以免影响检测结果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供