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一种全聚焦与相控阵双扫查成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010562565.4
IPC分类号：G01N29/06;G01N29/44
申请日期：
2020-06-18
申请人：
广州多浦乐电子科技股份有限公司

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种全聚焦与相控阵双扫查成像方法
申请号	CN202010562565.4	申请日期	2020-06-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-23	公开/公告号	CN111812205A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	广州多浦乐电子科技股份有限公司	申请人地址	广东省广州市广州经济技术开发区开创大道1501号2栋一楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广州多浦乐电子科技股份有限公司	当前权利人	广州多浦乐电子科技股份有限公司
发明人	蔡庆生;李振宁;骆琦;韩松
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	郭浩辉;麦小婵

摘要

本发明提供了一种全聚焦与相控阵双扫查成像方法，在进行相控阵与全聚焦双扫查成像时，通过在全聚焦的成像时间段内同时并行进行相控阵的发射接收模块控制以及聚焦成像处理，一方面避免了两种方式的互相干扰，保证两种成像方式都能正常工作，另一方面又有效的提升整个系统的成像帧率，从而满足实际应用中的实时性要求。

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