主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201811339990.6
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2018-11-12
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试方法、装置及系统
申请号	CN201811339990.6	申请日期	2018-11-12
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2019-03-01	公开/公告号	CN109406899A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	葛欣宏;李旭;张鹰
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	罗满

摘要

本发明实施例公开了一种主动式透光屏蔽薄膜屏蔽效能测试系统、方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中，系统包括电磁信号产生装置、金属箱体及电磁屏蔽效能计算装置。电磁信号产生装置产生预设强度电磁波信号，并将电磁波信号辐照至金属箱体的窗口处；金属箱体为具有安装光学玻璃的窗口的全封闭箱体结构，光学玻璃上设置待测透光屏蔽薄膜；透光屏蔽薄膜的面积不小于光学玻璃的面积以覆盖光学玻璃；电磁屏蔽效能计算装置用于采集经待测透光屏蔽薄膜屏蔽后金属箱体内的电磁波信号强度，并计算其与不经待测透光屏蔽薄膜的金属箱体内电磁波信号强度的比值，作为待测透光屏蔽薄膜的屏蔽效能值。本申请实现了对透光屏蔽薄膜屏蔽效能的准确测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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