微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201510564399.0
IPC分类号：G01R27/26
申请日期：
2015-09-07
申请人：
工业和信息化部电子工业标准化研究院

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专利名称	微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统
申请号	CN201510564399.0	申请日期	2015-09-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-02	公开/公告号	CN105116234A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/26 电感或电容的测量；品质因数的测量，例如通过应用谐振法；损失因数的测量；介电常数的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;2;6查看分类表>
申请人	工业和信息化部电子工业标准化研究院	申请人地址	北京市东城区安定门东大街1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	工业和信息化部电子工业标准化研究院	当前权利人	工业和信息化部电子工业标准化研究院
发明人	赵飞;沙长涛;王珂;王文峰;阚劲松
代理机构	北京恩赫律师事务所	代理人	赵文成

摘要

本发明公开了一种微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统，属于微波测试领域，所述多频段测量装置包括底座，所述底座上设置有固定支架和可调支架，所述固定支架上安装有可拆卸的第一金属谐振腔，所述可调支架上安装有可拆卸的第二金属谐振腔，所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔相对设置。本发明的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置，可以实现固定端谐振腔和可移动端谐振腔均可以在垂直于轴向的水平与竖直方向的位置微调；本发明的谐振腔组件易于拆卸，可以安装腔体部分尺寸不同的多个谐振腔组件，实现多频段的材料复介电常数测量；本发明的结构布局简易，易于操作。

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