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半导体封装体配置装置、制造装置、配置方法及其应用

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810208327.6
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2018-03-14
  • 申请人:
    东和株式会社
著录项信息
专利名称半导体封装体配置装置、制造装置、配置方法及其应用
申请号CN201810208327.6申请日期2018-03-14
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-10-09公开/公告号CN108630579A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人东和株式会社申请人地址
日本京都府京都市南区上鸟羽上调子町5番地(邮编 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东和株式会社当前权利人东和株式会社
发明人今井一郎;深井元树;片冈昌一
代理机构北京同立钧成知识产权代理有限公司代理人杨贝贝;臧建明
摘要
本发明提供一种可高精度地配置半导体封装体的半导体封装体配置装置、制造装置、配置方法及其应用。半导体封装体配置装置具备:吸附机构,用以吸附半导体封装体;第1拍摄元件,用以拍摄吸附在吸附机构上的半导体封装体;配置构件,用以配置吸附在吸附机构上的半导体封装体;以及第2拍摄元件,用以拍摄配置构件的开口。吸附机构可在单轴方向上移动,第2拍摄元件安装在吸附机构上。根据由第1拍摄元件所拍摄的半导体封装体的拍摄数据与由第2拍摄元件所拍摄的开口的拍摄数据,进行半导体封装体对于开口的对位,而将半导体封装体配置在配置构件上。

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