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GaN单晶衬底及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410044554.8
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    1998-10-29
  • 申请人:
    住友电气工业株式会社
著录项信息
专利名称GaN单晶衬底及其制造方法
申请号CN200410044554.8申请日期1998-10-29
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2004-11-03公开/公告号CN1542992
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人住友电气工业株式会社申请人地址
日本大阪府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人住友电气工业株式会社当前权利人住友电气工业株式会社
发明人元木健作;冈久拓司;松本直树
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人李贵亮;杨梧
摘要
一种GaN单晶衬底的制造方法,其特征在于,包括:屏蔽层形成工序,在GaAs衬底(2)上,形成具有相互隔离配置的多个开口窗(10)的屏蔽层(8),和外延层生成工序,在屏蔽层(8)上,生长由GaN构成的外延层(12)。

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