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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种用于芯片测试的治具

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202120677918.5
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R1/04
  • 申请日期:
    2021-04-02
  • 申请人:
    优普士电子(深圳)有限公司
著录项信息
专利名称一种用于芯片测试的治具
申请号CN202120677918.5申请日期2021-04-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人优普士电子(深圳)有限公司申请人地址
广东省深圳市龙华新区大浪街道华宁路(西)恒昌荣星辉科技工业园第C栋第5层西边 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人优普士电子(深圳)有限公司当前权利人优普士电子(深圳)有限公司
发明人刘坡
代理机构深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)代理人李捷
摘要
本实用新型提供一种用于芯片测试的治具,其包括底座、测试针、压固件、第一弹性件以及压盖,其中底座设置有安置槽,用于放置芯片,测试针设置在底座上,一端延伸在安置槽内用于与芯片连接,另一端用于与检测设备连接,压固件转动设置在底座上,用于将芯片压固在安置槽内,第一弹性件连接在压固件和底座之间,用于挤压压固件压固芯片,压盖包括与安装槽对应的避位通槽,压盖与底座活动连接,用于活动挤压多个压固件转动,使得多个压固件与安置槽避位。本实用新型的用于芯片测试的治具通过设置压盖能控制多个压固件转动,便于放置芯片,之后压固件能在第一弹性件的弹力作用下,压固芯片,操作方便快速。

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