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虚拟测试方法、装置、设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN201910403987.4
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2019-05-16
申请人：
上海燧原智能科技有限公司;上海燧原科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	虚拟测试方法、装置、设备及存储介质
申请号	CN201910403987.4	申请日期	2019-05-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-06-21	公开/公告号	CN109917277A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	上海燧原智能科技有限公司;上海燧原科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海燧原智能科技有限公司,上海燧原科技有限公司	当前权利人	上海燧原智能科技有限公司,上海燧原科技有限公司
发明人	马海英;郭锐;韩晶
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆

摘要

本发明实施例公开了一种虚拟测试方法、装置、设备和存储介质，该方法包括设置当前测试模式为虚拟测试模式，在所述虚拟测试模式中，通过虚拟测试寄存器接管和测试关联的控制信号；通过所述虚拟测试寄存器生成传输时钟，进行测试链路装载；当测试链路装载完毕后，通过所述虚拟测试寄存器生成捕获时钟，进行测试结果的捕获，本方案提高了芯片测试效率，节约了硬件资源。

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