补偿型中子剂量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220542049.6
IPC分类号：G01T3/00
申请日期：
2012-10-23
申请人：
哈尔滨工程大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	补偿型中子剂量仪
申请号	CN201220542049.6	申请日期	2012-10-23
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T3/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T3/00 中子辐射的测量（G01T 5/00优先）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;3;/;0;0查看分类表>
申请人	哈尔滨工程大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工程大学	当前权利人	哈尔滨工程大学
发明人	李桃生;杨国召;颜强;宫存溃;刘琼瑶;王庆宇;彭帮保
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型的目的在于提供补偿型中子剂量仪，包括包装层、慢化球体、重金属层，慢化球体设置在包装层里，慢化球体与包装层之间设置中子裂变增殖层，重金属层设置在慢化球体里，重金属层里安装计数器，慢化球体沿径向设置空气棒。本实用新型既能使热能区中子注量响应得到提高，又能使中能区中子注量响应得到减少，还能对中子辐射场中的伴随γ射线进行屏蔽。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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