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光学时域反射仪、光学传输线路的测试方法以及光学传输线路的测试系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980055376.3
  • IPC分类号:G01M11/00;H04B10/071
  • 申请日期:
    2019-04-25
  • 申请人:
    日本电气株式会社
著录项信息
专利名称光学时域反射仪、光学传输线路的测试方法以及光学传输线路的测试系统
申请号CN201980055376.3申请日期2019-04-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-04-02公开/公告号CN112601945A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/00IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;1查看分类表>
申请人日本电气株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日本电气株式会社当前权利人日本电气株式会社
发明人松本悠平;小熊健史;新谷和则
代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司代理人孙志湧;李兰
摘要
光源(2)输出监视光(ML)。光学检测单元(4)检测来自光学传输线路(TL)的返回光(BL),并输出指示该返回光(BL)的强度的检测信号(VB)。光学复用器/解复用器(3)将从光源(2)输入的监视光(ML)输出到光学传输线路(TL),并且将从光学传输线路(TL)输入的返回光(BL)输出到光学检测单元(4)。处理单元(1)检测检测信号(VB)小于第一阈值的第一时刻,检测检测信号(VB)小于第二阈值的第二时刻,并且计算第一和第二时刻之间的时段中的检测信号(VB)的第一变化率。处理单元(1)改变第一和第二阈值以计算多个时段的第一变化率,并且,当两个相邻时段中的第一变化率之间的第二变化率大于阈值时,一个时段中的第一和第二时刻的一个被检测为破坏位置。

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