专利名称 | 一种Si基缓冲层镀膜玻璃的光学参数检测方法 | ||
申请号 | CN201410108173.5 | 申请日期 | 2014-03-21 |
法律状态 | 撤回 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2014-06-25 | 公开/公告号 | CN103884494A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01M11/02 | IPC分类号 | G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表> |
申请人 | 浙江大学 | 申请人地址 | 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 浙江大学 | 当前权利人 | 浙江大学 |
发明人 | 刘涌;王慷慨;程波;宋晨路;韩高荣;杨振辉;王菊;苏婷 | ||
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 韩介梅 |
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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1
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2006-07-26
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2006-02-08
| 无光污染的二层膜结构镀膜玻璃失效专利 | ||
2
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2007-05-16
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2006-10-25
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3
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2013-09-25
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2013-05-27
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4
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1997-03-12
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1995-09-06
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5
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2012-09-19
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2012-05-03
| |||
6
| 暂无 |
2005-04-22
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序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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