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基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710221692.6
IPC分类号：H03M1/10
申请日期：
2017-04-06
申请人：
电子科技大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法
申请号	CN201710221692.6	申请日期	2017-04-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-07-28	公开/公告号	CN106992783A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H03M1/10 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H03 基本电子电路 H03M 一般编码、译码或代码转换（用射流方法入F15C 4/00；光学模/数转换器入G02F 7/00；专用于特殊应用的编码、译码或代码转换见有关小类，例如G01D，G01R，G06F，G06T，G09G，G10L，G11B，G11C，H04B，H04L，H04M，H04N；专用于密码技术或涉及需要保密的其他目的的编码或译码入G09C）〔4〕 H03M1/00 模/数转换；数/模转换（模拟值转换到差分调制或相反转换入H03M 3/00）〔4〕 H03M1/10 校正或测试〔4〕	IPC分类号	H;0;3;M;1;/;1;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	李靖;王朝驰;李成泽;叶欣;宁宁
代理机构	成都点睛专利代理事务所（普通合伙）	代理人	葛启函

摘要

基于二分查找的时间交织ADC用采样时间失配校正方法，属于集成电路设计领域。当采样时间失配表征量|Bi|≥Bs时，采用二分查找法和固定校正步长相结合的方法调节下一个校正周期中的采样时间失配校正系数Tcali(n+1)，当|Bi|

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