一种电路测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921184610.6
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2019-07-26
申请人：
合肥本源量子计算科技有限责任公司

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著录项信息

专利名称	一种电路测试装置
申请号	CN201921184610.6	申请日期	2019-07-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	合肥本源量子计算科技有限责任公司	申请人地址	安徽省合肥市合肥市高新区创业产业园二期E2栋6层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	合肥本源量子计算科技有限责任公司	当前权利人	合肥本源量子计算科技有限责任公司
发明人	孔伟成;李松
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型属于测控领域，具体公开了一种电路测试装置，包括位于常温的检测装置和位于低温的测试功能板，所述测试功能板上设置有若干测试电路；若干所述测试电路的两端分别设置有第一单刀多掷开关和第二单刀多掷开关；所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关均通过连接线连接位于常温的所述检测装置；可以通过切换所述第一单刀多掷开关和所述第二单刀多掷开关连通任一所述测试电路；通过所述第一单刀多掷开关的动端和所述第二单刀多掷开关的动端的同步切换，实现原位地切换到任一所述被测件电路，通过所述检测装置测量被测件的参数，也可以原位地切换到其他被测件电路，极大地提高了微波被测件的测试精度与测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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