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可调谐窄线宽激光器频率调谐效率测量方法及测量系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010834927.0
  • IPC分类号:G01M11/02;G01M11/00;G01J9/02
  • 申请日期:
    2020-08-19
  • 申请人:
    北京自动化控制设备研究所
著录项信息
专利名称可调谐窄线宽激光器频率调谐效率测量方法及测量系统
申请号CN202010834927.0申请日期2020-08-19
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-12-08公开/公告号CN112051035A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;J;9;/;0;2查看分类表>
申请人北京自动化控制设备研究所申请人地址
北京市丰台区云岗北里1号院3号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京自动化控制设备研究所当前权利人北京自动化控制设备研究所
发明人陆星;李鹏;秦杰;柏楠;万双爱
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明提供了一种可调谐窄线宽激光器频率调谐效率测量方法及测量系统,利用非平衡臂迈克尔逊干涉仪将待测可调谐窄线宽激光器微小的光域频率变化转换为光学相位变化,以实现对可调谐窄线宽激光器的光域频率变化的测量,进而实现对可调谐窄线宽激光器的频率调谐效率的测量。本发明的技术方案可以测量常规光谱仪难以测量的光域频率变化。同时,本发明利用信号发生器输出不同频率fPGC和幅度VPGC的模拟正弦波信号对可调谐窄线宽激光器的频率进行调制,以实现对不同调制带宽下的可调谐窄线宽激光器的频率调谐效率的测量,为可调谐窄线宽激光器的实际使用提供依据。进一步的,本发明的测量系统中的元件都是常见元件,结构简单,实施方便,成本较低。

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