半导体集成电路的测试方法及集成电路测试器

发明专利无效专利

申请号：
CN200710137175.7
IPC分类号：G01R31/00;G01R31/28;G01R31/02
申请日期：
2007-07-30
申请人：
横河电机株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体集成电路的测试方法及集成电路测试器
申请号	CN200710137175.7	申请日期	2007-07-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-10-15	公开/公告号	CN101285864
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;0;2查看分类表>
申请人	横河电机株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	横河电机株式会社	当前权利人	横河电机株式会社
发明人	永沼英树
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	葛宝成;黄小临

摘要

本发明提供一种半导体集成电路的测试方法与一种IC(集成电路)测试器，以实现即使并非完全短路，仍可检测出接脚间短路。为达成上述目的，本发明提供一种半导体集成电路的测试方法，用以检测出具有多个接脚的半导体集成电路的接脚间短路。其特征为：IC测试器或半导体集成电路在半导体集成电路的所望接脚产生脉冲或阶跃信号，且IC测试器藉由邻接所望接脚的半导体集成电路的接脚所产生的波形，以进行接脚间短路的判定。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN103852681A	2012-12-24	2012-12-24	测试装置以及电子装置的测试方法有效专利	纬创资通股份有限公司
2	CN101697003B	2009-11-06	2009-11-06	一种短路检测方法和短路检测装置失效专利	烽火通信科技股份有限公司
3	CN103852681B	2012-12-24	2012-12-24	测试装置以及电子装置的测试方法有效专利	纬创资通股份有限公司
4	CN103544911A	2012-07-17	2012-07-17	电子装置无效专利	东莞万士达液晶显示器有限公司;胜华科技股份有限公司

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供