一种读出电路逐点偏压的控制方法及其DAC结构

发明专利无效专利

申请号：
CN201110417645.1
IPC分类号：G01J5/10;H03M1/50
申请日期：
2011-12-14
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种读出电路逐点偏压的控制方法及其DAC结构
申请号	CN201110417645.1	申请日期	2011-12-14
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-06-13	公开/公告号	CN102494780A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/10 用电辐射检测器	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;1;0;;;H;0;3;M;1;/;5;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	周云;吕坚;蒋亚东;王洪;于彩灯
代理机构	成都华典专利事务所（普通合伙）	代理人	杨保刚;徐丰

摘要

本发明公开了一种读出电路逐点偏压的控制方法及其DAC结构，其中DAC结构包括在正基准电压和负基准电压之间连接2N个串联成的电阻串，其中N为DAC的位数，将相邻两个电阻之间构成的2N-1个分压连接到数个与DAC中的译码网络decoder部分相同的译码网络decoder上，最终通过校正数据控制只把2N-1个分压中的一个通过译码网络decoder的输出连接到MOSFET的栅极上。本发明在解决非均匀性校正功能的基础上实现面积更小，功耗更低，精度更高，提高非制冷红外探测器的性能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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