一种基于多普勒频率展开的双基地合成孔径雷达成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310452860.4
IPC分类号：G01S13/90
申请日期：
2013-09-27
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种基于多普勒频率展开的双基地合成孔径雷达成像方法
申请号	CN201310452860.4	申请日期	2013-09-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-29	公开/公告号	CN103543452A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S13/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S13/00 使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统〔3〕 G01S13/89 用于绘地图或成像〔3〕 G01S13/90 使用合成孔径技术〔3，6〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;3;/;9;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	张晓玲;张龙;陈远河;时代奇
代理机构	电子科技大学专利中心	代理人	曾磊

摘要

本发明公开了一种基于多普勒频率展开的双基地合成孔径雷达系统成像方法，它是通过将精确的双基SAR二维频谱表达式关于多普勒频率进行泰勒展开，简化了求解二维频谱表达式；利用omega-k算法的思想，根据二维频谱的表达式，得到系统的二维STOLT关系，最后通过利用二维STOLT关系，采用二维非均匀傅里叶变换来近似二维STOLT插值，完成系统的成像。与传统方法相比，由于它是基于简洁且精确的二维频谱，使得点目标聚焦良好，另外，充分考虑多普勒频率的高次项对成像结果的影响，使得成像算法能够对场景精确成像，并且由于只考虑多普勒频率，在很大程度上减少双基地成像算法的复杂度。

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