一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710117791.6
IPC分类号：G01B21/30
申请日期：
2007-06-25
申请人：
北京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法
申请号	CN200710117791.6	申请日期	2007-06-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-12-05	公开/公告号	CN101082484
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/30 用于计量表面的粗糙度或不规则性〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;3;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	王中宇;孟浩;付继华
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	贾玉忠;卢纪

摘要

一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法，其特点在于：利用灰色滚动模型，对一个取样长度内原始轮廓的采样数据进行灰色建模，获得轮廓的模型曲线，并将评定长度内各取样长度所对应的模型曲线进行综合得到一条光滑的轮廓曲线，将此曲线作为粗糙度评定的轮廓基准线。本发明的原始轮廓数据无需服从典型分配，评定过程不损失原始数据，在整个评定长度内获得灰色基准线，无需事先去除形状误差，灰色基准线在整个评定长度内光滑自然，更接近高斯基准线。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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