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4H-SiC浮结结势垒肖特基二极管及其制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201410333652.7
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2014-07-14
  • 申请人:
    西安永电电气有限责任公司
著录项信息
专利名称4H-SiC浮结结势垒肖特基二极管及其制备方法
申请号CN201410333652.7申请日期2014-07-14
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2016-01-27公开/公告号CN105280723A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人西安永电电气有限责任公司申请人地址
陕西省西安市经开区文景北路15号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安永电电气有限责任公司当前权利人西安永电电气有限责任公司
发明人曹琳
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人常亮
摘要
本发明公开了一种4H-SiC浮结结势垒肖特基二极管及其制备方法,所述4H-SiC浮结结势垒肖特基二极管包括:4H-SiC衬底;位于衬底上的第一4H-SiC外延层,第一4H-SiC外延层上方形成有浮结层;位于第一4H-SiC外延层和浮结层上的第二4H-SiC外延层;位于第二4H-SiC外延层上的结势垒区、结终端扩展及场限环;位于结终端扩展和场限环上方的SiO2层、以及位于部分SiO2层上的场板,场板中间形成肖特基接触窗口;位于衬底背面的欧姆接触的阴极、以及位于肖特基接触窗口内肖特基接触的阳极。本发明改善了4H-SiC浮结肖特基势垒二极管反向漏电流大的问题,同时,将传统高温离子注入工艺形成浮结结构的方法改变为刻蚀外延工艺,解决了离子注入产生晶格损伤导致器件性能下降的问题,有效提升了器件性能。

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