高压变频器测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201010114425.7
IPC分类号：G01R31/00;G01R19/25
申请日期：
2010-02-26
申请人：
上海新时达电气股份有限公司;上海辛格林纳新时达电机有限公司

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著录项信息

专利名称	高压变频器测试系统
申请号	CN201010114425.7	申请日期	2010-02-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-08-04	公开/公告号	CN101793931A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;9;/;2;5查看分类表>
申请人	上海新时达电气股份有限公司;上海辛格林纳新时达电机有限公司	申请人地址	上海市嘉定区南翔镇新勤路289号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海新时达电气股份有限公司,上海辛格林纳新时达电机有限公司	当前权利人	上海新时达电气股份有限公司,上海辛格林纳新时达电机有限公司
发明人	李兴鹤;宋吉波;马艳玲;时迎亮;吴芸;谢海峰;邢辉;李唯为
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	胡美强

摘要

本发明公开了一种高压变频器测试系统，其包括：分别与该高压变频器电连接的一上位机部分及与一下位机部分，该上位机部分包括一人机界面模块和一PLC模块，该下位机部分包括依次电连接的一功率单元模块、一电机模块、一输入侧模块及一输出侧模块。本发明的测试系统能够全方位支持高压变频器开发过程中的调试与测试，能够直接检测高压变频器控制算法及效果，以进一步确保测试安全，提高测试效率，减低能耗。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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