磁场测定方法及磁场测定装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201680081122.5
IPC分类号：G01R33/02;H01F7/20;H05H7/04
申请日期：
2016-08-22
申请人：
三菱电机株式会社

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著录项信息

专利名称	磁场测定方法及磁场测定装置
申请号	CN201680081122.5	申请日期	2016-08-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-09-28	公开/公告号	CN108603920A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2;;;H;0;1;F;7;/;2;0;;;H;0;5;H;7;/;0;4查看分类表>
申请人	三菱电机株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三菱电机株式会社	当前权利人	三菱电机株式会社
发明人	松田哲也;山本和男
代理机构	中国贸促会专利商标事务所有限公司	代理人	暂无

摘要

目的在于提供一种高精度地确定具备多个线圈的组合线圈的线圈间中心位置的磁场测定方法。本发明的磁场测定方法的特征在于，包括第一径向磁场测定步骤，通过配置在从线圈轴(3)分离的偏置位置的磁场测定元件(2)，在偏置位置处测定沿着与线圈轴(3)平行的偏置轴(旋转轴(4))的第一径向磁场；第二径向磁场测定步骤，在偏置位置处，通过旋转了设定角度的磁场测定元件(2)，测定沿着偏置轴的第二径向磁场；以及中心位置确定步骤，基于第一径向磁场的偏置轴方向的特性即第一径向磁场特性(磁场分布(64))和第二径向磁场的偏置轴方向的特性即第二径向磁场特性(磁场分布(65))来确定线圈间中心位置。

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