核医学诊断装置的闪烁体阵列的识别机构所需的参数的决定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200680054862.6
IPC分类号：G01T1/161
申请日期：
2006-09-19
申请人：
株式会社岛津制作所

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著录项信息

专利名称	核医学诊断装置的闪烁体阵列的识别机构所需的参数的决定方法
申请号	CN200680054862.6	申请日期	2006-09-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-06-17	公开/公告号	CN101460864
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/161 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/161 在核医学领域的应用，例如，人体内的计数〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;1;6;1查看分类表>
申请人	株式会社岛津制作所	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社岛津制作所	当前权利人	株式会社岛津制作所
发明人	户波宽道;大井淳一
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁

摘要

本发明涉及一种核医学诊断装置的闪烁体阵列的识别机构所需的参数的决定方法，能够高精度且简便地决定二级闪烁体γ射线检测器中的闪烁体阵列的识别机构所需的参数T1、T2、K。闪烁体阵列的识别机构所需的参数参照第一信号计数比来决定，第一信号计数比通过在γ射线检测器单体的检查阶段对在γ射线入射深度方向上发光脉冲衰减时间不同的各个闪烁体阵列中的每一个照射γ射线而获取，通过从该γ射线检测器单体的前面来照射γ射线而获取第二信号计数比，通过在将γ射线检测器单体搭载到PET装置中的阶段而从γ射线检测器单体的前面照射γ射线而获取第三信号计数比，决定在与所述第二信号计数数据相同的条件下的闪烁体阵列的识别机构所需的参数。

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