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实时生成闪存测试向量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200510111427.X
IPC分类号：G01R31/26;G01R31/00;H01L21/66
申请日期：
2005-12-13
申请人：
上海华虹NEC电子有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	实时生成闪存测试向量的方法
申请号	CN200510111427.X	申请日期	2005-12-13
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2007-06-20	公开/公告号	CN1982908
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	上海华虹NEC电子有限公司	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华虹宏力半导体制造有限公司	当前权利人	上海华虹宏力半导体制造有限公司
发明人	谢晋春;武建宏
代理机构	上海浦一知识产权代理有限公司	代理人	丁纪铁

摘要

本发明公开了一种实时生成闪存测试向量的方法，预先把对闪存擦除操作、读操作和写操作分别编写成擦写类库函数、读类库函数和写类库函数库函数，在测试中，通过调用这些库函数实时生成测试向量。本发明可明显缩短测试程序开发时间，提高测试程序的可靠性和测试开发效率。

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