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一种光电器件探针测试系统

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201420336202.9
  • IPC分类号:G01R31/26;H02S50/10;G01M11/00
  • 申请日期:
    2014-06-23
  • 申请人:
    郭旺水
著录项信息
专利名称一种光电器件探针测试系统
申请号CN201420336202.9申请日期2014-06-23
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/26IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;H;0;2;S;5;0;/;1;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人郭旺水申请人地址
浙江省宁波市象山县贤痒镇工业园区 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人郭旺水当前权利人郭旺水
发明人郭旺水
代理机构北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)代理人汤东凤
摘要
本实用新型涉及一种光电器件探针测试系统,属于光电器件性能测试领域,它包括密闭的测试腔、样品台、探针台、接线槽、光采集和发射探头、光电测试仪器,样品台位于测试腔腔体的中部,探针台位于样品台下方,并通过旋转升降装置与样品台上的样品接触,探针台的探针阵列通过导线与测试腔外的接线槽相连接,光采集和发射探头悬于测试腔腔体内样品台的上方,并通过光纤接到腔外的光电测试仪器。该光电器件探针测试与器件制备系统整合后,可原位实现在真空、氮气、氧气和特殊气氛环境下,对电致发光器件、太阳能电池、场效应晶体管、电存储器件等的快速、简便、标准化、模块化和自动化的检测。

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