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化学机械研磨装置的晶片载具及其研磨方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN02147325.0
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2002-10-18
  • 申请人:
    联华电子股份有限公司
著录项信息
专利名称化学机械研磨装置的晶片载具及其研磨方法
申请号CN02147325.0申请日期2002-10-18
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2003-12-31公开/公告号CN1464534
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人联华电子股份有限公司申请人地址
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行二路三号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人联华电子股份有限公司当前权利人联华电子股份有限公司
发明人许嘉麟;余志展;许仕勋;陈学忠
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人任永武
摘要
一种化学机械研磨装置的晶片载具及其研磨方法。本发明的晶片载具包括一第一板件、一第二板件及一弹性膜件。第一板件具有多个凸件形成于其一底部表面及第二板件具有多个通孔贯穿于其中。每一凸件可与一通孔相卡合,以使第一卡件与第二卡件可分离地相结合。弹性膜件是装设于第二板件下方并与其接触。弹性膜件与接触第二板件的表面相对的一表面提供一晶片承载表面。

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