电控隔热屏当量发射率测试系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201410606605.5
IPC分类号：G01N25/20
申请日期：
2014-10-31
申请人：
上海卫星工程研究所

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著录项信息

专利名称	电控隔热屏当量发射率测试系统及方法
申请号	CN201410606605.5	申请日期	2014-10-31
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-02-25	公开/公告号	CN104374798A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/20 通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;2;0查看分类表>
申请人	上海卫星工程研究所	申请人地址	上海市闵行区华宁路251号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海卫星工程研究所	当前权利人	上海卫星工程研究所
发明人	胡明亮;陈菡;翟载腾;陆江峰;刘荣辉;腊栋
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	郭国中

摘要

本发明提供了一种电控隔热屏当量发射率测试系统及方法，包括电控隔热屏安装底板、热电偶温度测量系统、电加热系统、多层隔热组件、真空低温容器，分别测量电控隔热屏多层在打开到不同位置下，电控隔热屏安装底板加热功率和温度，根据当量发射率计算公式进行计算电控隔热屏安装底板热控涂层的当量发射率，获取T-εeff的关系。本发明解决了电控隔热屏当量发射率的测量问题，通过该方法获取的试验数据，为电控隔热屏和航天器热控分系统进行热分析计算建立的电控隔热屏数学模型提供准确的输入参数，保证了电控隔热屏和热控分系统设计的正确性，为电控隔热屏在航天器上应用提供了技术支持。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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