一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200810116850.2
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2008-07-18
申请人：
北京优纳科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法
申请号	CN200810116850.2	申请日期	2008-07-18
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2008-12-31	公开/公告号	CN101334266
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京优纳科技有限公司	申请人地址	苏州高新区科灵路2号软件园12号楼1层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州优纳科技有限公司	当前权利人	苏州优纳科技有限公司
发明人	郑众喜;李鹏杰;刘明星
代理机构	北京金阙华进专利事务所（普通合伙）	代理人	吴鸿维

摘要

本发明公开了一种基于大容量图像存储技术的电路板缺陷离线检测方法。该方法包括以下几个步骤：1)使用相机逐区域的拍摄需要检测的电路板，并保存每个局部区域的图像；2)使用图像拼接方法将多个单独区域的图像按其所拍摄区域的位置关系拼接成一幅完整的图像；3)使用离线电路板缺陷检测软件编辑电路板缺陷检测程式；4)使用离线电路板缺陷检测软件检测电路板缺陷。通过以上方法和技术，工程师可以最少的占用PCB生产线上电路板检测设备，在离线状态可以获得联机状态时完全相同的观察景象，从而显著的提高了PCB生产线上电路板检测设备的利用率，减少了制作缺陷检测程式的时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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