基于哈特曼‑夏克波前传感器的自由曲面镜片波面拼接方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201611238451.4
IPC分类号：G01M11/02;G01J9/00
申请日期：
2016-12-28
申请人：
中国计量大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于哈特曼‑夏克波前传感器的自由曲面镜片波面拼接方法
申请号	CN201611238451.4	申请日期	2016-12-28
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-31	公开/公告号	CN106768892A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;J;9;/;0;0查看分类表>
申请人	中国计量大学	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量大学	当前权利人	中国计量大学
发明人	禹静;汪成立;李东升;华芳芳
代理机构	杭州奥创知识产权代理有限公司	代理人	王佳健

摘要

本发明公开了一种基于哈特曼‑夏克波前传感器的自由曲面镜片波面拼接方法。本发明利用哈特曼‑夏克波前传感器测量得到整片自由曲面镜片的W1区域，得到W1区域波前泽尼克多项式的前五项系数，再移动一定的距离测量W2区域，得到W2区域波前泽尼克多项式的前五项系数。选择W1、W2重叠区域的三个点，将W1、W2区域的波前像差用泽尼克多项式表示出来，求解得到拼接参数，将该拼接参数代入波前相位的泽尼克展开式即可将W1、W2区域的波前像差表示出来。本发明实现了利用波前拼接的方法得到整片自由曲面镜片波前像差的功能，具有测量快速、操作简单等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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