激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710077203.4
IPC分类号：G01N21/01
申请日期：
2017-02-14
申请人：
天津大学

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专利名称	激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法
申请号	CN201710077203.4	申请日期	2017-02-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-06-13	公开/公告号	CN106841036A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/01 便于进行光学测试的装置或仪器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	天津大学	申请人地址	天津市南开区卫津路92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学	当前权利人	天津大学
发明人	张红霞;李姣;周叶;贾大功;刘铁根;张以谟
代理机构	天津佳盟知识产权代理有限公司	代理人	刘书元

摘要

一种激光干涉成像系统中样品池的最佳摆放方法，属于光学测量领域。利用样品池盛装被测粒子，当样品池表面与光轴呈不同夹角时得到粒子的干涉条纹圆，对比分析得到更适用于倾斜物面的样品池摆放方式。包括以下步骤：1)搭建样品池表面与光轴呈不同夹角的干涉成像系统，记录不同位置的离焦图像；2)对样品池的摆放方式进行模拟，利用光线追迹软件模拟粒子表面出射点的成像情况，模拟不同样品池摆放角度、不同离焦距下的像面图像；3)对样品池的摆放方式进行实验，并记录不同离焦距时条纹图像；4)实验循环判别；5)样品池的最佳摆放方法，根据以上四个步骤，得到样品池的最佳摆放方法。

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