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晶圆的激光切割去环方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011462759.3
  • IPC分类号:B23K26/38;B23K26/067;B23K26/064
  • 申请日期:
    2020-12-14
  • 申请人:
    华虹半导体(无锡)有限公司
著录项信息
专利名称晶圆的激光切割去环方法
申请号CN202011462759.3申请日期2020-12-14
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-04-27公开/公告号CN112705859A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B23K26/38IPC分类号B;2;3;K;2;6;/;3;8;;;B;2;3;K;2;6;/;0;6;7;;;B;2;3;K;2;6;/;0;6;4查看分类表>
申请人华虹半导体(无锡)有限公司申请人地址
江苏省无锡市新吴区新洲路30号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华虹半导体(无锡)有限公司当前权利人华虹半导体(无锡)有限公司
发明人惠科石;苏亚青;谭秀文
代理机构上海浦一知识产权代理有限公司代理人郭四华
摘要
本发明公开了一种晶圆的激光切割去环方法,包括:步骤一、将晶圆放置固定在切割台上;步骤二、对激光发射器发射的入射激光束通过分光镜分成反射激光束和折射激光束;步骤三、采用反射激光束或折射激光束对晶圆的边缘环进行切割并去除,利用反射激光束或折射激光束的能量低于入射激光束能量的特点降低切割过程中的热效应。本发明能在提高激光切割光束的宽度的同时保证激光切割光束具有较低的能量,并从而能降低切割过程中的热效应并避免产生烧蚀物飞溅到边缘环内侧的晶圆表面上,从而能防止对晶圆的有效芯片晶粒产生不利影响,同时较宽的激光切割光束有利于对较薄晶圆的切割而不会产生微裂痕。

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