一种无源UHFRFID芯片抗静电能力的测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201711100596.2
IPC分类号：G06K7/00
申请日期：
2017-11-09
申请人：
中京复电（上海）电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种无源UHFRFID芯片抗静电能力的测试方法
申请号	CN201711100596.2	申请日期	2017-11-09
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-23	公开/公告号	CN107832643A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K7/00 读出记录载体的方法或装置（G06K 9/00优先；以数字方式标记记录载体的方法或装置入G06K 1/00）	IPC分类号	G;0;6;K;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中京复电（上海）电子科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区南汇新城镇环湖西一路99号10幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中京复电（上海）电子科技有限公司	当前权利人	中京复电（上海）电子科技有限公司
发明人	冀京秋;陈伯俊;邱落
代理机构	上海诺衣知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	韩国辉

摘要

本发明公开了一种无源UHFRFID芯片抗静电能力的测试方法，包括根据所述测试用例测试所述待测试芯片是否可正常识别；去除所述待测试芯片与所述外围器件之间的连接；于所述待测试芯片引脚加载一预定电压的脉冲；恢复所述待测试芯片与所述外围器件之间的连接；根据所述测试用例测试所述待测试芯片是否可正常识别；选取下一测试用例，并重复上述步骤，直至所有所述测试用例测试完毕。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHFRFID芯片的抗静电能力进行一系列有效的测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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