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具有像散补偿和能量选择的带电粒子显微镜

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610705341.8
  • IPC分类号:H01J37/153;H01J37/09
  • 申请日期:
    2016-08-23
  • 申请人:
    FEI公司
著录项信息
专利名称具有像散补偿和能量选择的带电粒子显微镜
申请号CN201610705341.8申请日期2016-08-23
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-08-08公开/公告号CN107026065A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/153IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;1;5;3;;;H;0;1;J;3;7;/;0;9查看分类表>
申请人FEI公司申请人地址
美国俄勒冈州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人FEI公司当前权利人FEI公司
发明人B.塞达;L.图马;A.亨斯特拉
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人周学斌;陈岚
摘要
本发明涉及具有像散补偿和能量选择的带电粒子显微镜。一种产生用于在带电粒子显微镜中使用的带电粒子的经校正射束的方法,包括以下步骤:提供带电粒子的非单能输入射束;将所述输入射束传递经过光学模块,所述光学模块包括以下的串联布置:像散矫正器,从而产生具有特定单能线聚焦方向的经像散补偿、能量色散的中间射束;射束选择器,包括狭缝,所述狭缝被旋转取向以便将狭缝的方向与所述线聚焦方向匹配,从而产生包括所述中间射束的能量辨别部分的输出射束。

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