集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200710068134.7
IPC分类号：G01J9/02
申请日期：
2007-04-19
申请人：
浙江大学

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专利名称	集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法
申请号	CN200710068134.7	申请日期	2007-04-19
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-10-03	公开/公告号	CN101046411
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕 G01J9/02 采用干涉法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;2查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市西湖区浙大路38号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	陈杏藩;刘承;舒晓武
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	林怀禹

摘要

本发明公开一种集成电光相位调制器电光相位调制系数测量方法，利用赛格奈克光纤干涉仪作为测量装置，通过被测集成电光相位调制器对该光纤干涉仪进行相位调制；所用相位调制信号为方波信号，调制方波周期大于两倍赛格奈克光纤干涉仪的渡越时间；先将调制方波的幅度从零值开始，按照固定电压步长线性增加，对于每个方波幅度，光纤干涉仪的输出为也为有高低电平的方波信号，由采样电路采样得到输出高低电平信号的数值，计算其电平差，当此电平差达到最大值时对应的调制方波的幅度记为Vπ/2；再将幅度调制方波的幅度固定为Vπ/2/2对光纤干涉仪进行相位调制，通过采样电路采样此时输出方波信号的高低电平大小，按照公式计算得到电光相位调制系数数值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN1847929A	2006-10-18	2006-05-15	一种光陀螺用LiNbO3电光相位调制器无效专利	浙江大学
2	EP1186896B1	暂无	2001-08-09	Verfahren und Vorrichtung zur elektrooptischen Messung elektrischer Spannung有效专利	LITEF GmbH
3	US5455676A	暂无	1994-02-24	Method of detecting a signal and modulation coefficient of a phase-modulated fiber-optic gyroscope based on a difference in the duration of multiple subwaves in a modulation period失效专利	Yozo Nishiura;Yasuhiko Nishi

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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