多用元器件电性能参数测试治具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202020087034.X
IPC分类号：G01R1/04;G01R31/28
申请日期：
2020-01-15
申请人：
深圳市三合微科技有限公司

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专利名称	多用元器件电性能参数测试治具
申请号	CN202020087034.X	申请日期	2020-01-15
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	深圳市三合微科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙华区民治街道民治社区1970科技园7栋712 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市三合微科技有限公司	当前权利人	深圳市三合微科技有限公司
发明人	李俊
代理机构	深圳科湾知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	钟斌

摘要

本实用新型涉及测试技术领域，且公开了多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚；本实用新型通过PCB板、测试台、第一凹槽、第二凹槽、测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件的设置，使得该测试治具可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率，解决了现有SOT23‑6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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