加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

检测发光器件混色缺陷的装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201520154803.2
  • IPC分类号:H01L21/66
  • 申请日期:
    2015-03-18
  • 申请人:
    上海和辉光电有限公司
著录项信息
专利名称检测发光器件混色缺陷的装置
申请号CN201520154803.2申请日期2015-03-18
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/66IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人上海和辉光电有限公司申请人地址
上海市金山区金山工业区大道100号1幢二楼208室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海和辉光电股份有限公司当前权利人上海和辉光电股份有限公司
发明人颜圣佑;许嘉哲;吴思宗
代理机构上海申新律师事务所代理人吴俊
摘要
本实用新型提供的检测发光器件混色缺陷的装置,涉及半导体器件制造领域,通过增设光源及与其匹配的滤镜,即可在对诸如OLED等发光器件的混色缺陷检测工艺中,利用该光源及滤镜对发光区以外的区域所产生的干扰光线进行互补,以消除该干扰光线,进而使得采集的图像中,将发光区图像与其他区域图像予以区分,进而消除混色等缺陷,在增强后续对发光范围的分析判定精准度的同时,还大大提高了检测工艺的工作效率。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供