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一种小芯片精密测量机

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201510621203.7
  • IPC分类号:B07C5/34;B07C5/02
  • 申请日期:
    2015-09-25
  • 申请人:
    南京时恒电子科技有限公司
著录项信息
专利名称一种小芯片精密测量机
申请号CN201510621203.7申请日期2015-09-25
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2015-12-30公开/公告号CN105195439A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B07C5/34IPC分类号B;0;7;C;5;/;3;4;;;B;0;7;C;5;/;0;2查看分类表>
申请人南京时恒电子科技有限公司申请人地址
江苏省南京市江宁区湖熟街道金阳路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京时恒电子科技有限公司当前权利人南京时恒电子科技有限公司
发明人汪洋
代理机构南京同泽专利事务所(特殊普通合伙)代理人闫彪
摘要
本发明涉及一种小芯片精密测量机,属于电子测温器件测试技术领域。该机包括测试控制电路以及斜置在机身上的旋转测试盘,测试盘的下部装有形成接料池的月形板,测试盘具有圆周均布的容料孔;容料孔的前部为可容纳小芯片的容料段,底部为孔径小于容料段的通气段;测试盘的一边装有测试臂,测试臂的端部具有尖端安装测试头的测针;测试盘的上部前侧固定排出座,排出座上具有可与容料孔位置对应的分档排出孔,测试盘的后侧装有位置分别对应排出孔的吹气嘴,排出孔的前侧分别装有通往分档集料仓的导料管;测试头通过测试控制电路分别接各吹气嘴控制阀的受控端。本发明使测试效率大大提高,并且有利于保证测试精度,还提高了芯片合格率。

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